기기분석II화학분석기사(구) · 2019년03월03일 · 71/80
71.질량분석법을 응용한 2차 이온 질량분석법(SIMS)에 대한 설명으로 틀린 것은?
1
고체 표면의 원자와 분자조성을 결정하는데 유용하다.
2
동적 SIMS는 표면 아래 깊이에 따른 조성 정보를 얻기 위하여 사용된다.
3
통상적으로 사용되는 SIMS를 위한 변환기는 전자증배기, 패러데이컵 또는 영상검출기이다.
4
양이온 측정은 가능하나 음이온 측정이 불가능한 분석법이다.정답
해설
양이온, 음이온 모두 측정가능