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작업환경측정 및 평가산업위생관리산업기사 · 2008년03월02일 · 22/80

22.석면의 측정방법 중 X선 회절법에 관한 설명으로 틀린 것은?

1

값이 비싸고 조작이 복잡하다.

2

1차 분석에 사용하며 2차 분석에는 적용하기 어렵다.정답

3

석면포함 물질을 은막 여과지에 놓고 X선을 조사한다.

4

고형시료 중 크리스타일 분석에 사용한다.

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