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탐사공학응용지질기사 · 2004년08월08일 · 57/100

57.시료의 정량분석 중 X선 형광분석법에 대한 설명으로 잘못된 것은?

1

1차 X선에 의해 방사되는 2차 X선의 분광을 이용한다.

2

시료를 분말가압성형법과 용융법으로 제조하여 고체나 액체 시료 모두를 분석할 수 있다.

3

다원소 분석이 가능하며, 정밀도가 높다.

4

Mg, Al, Si 등에 대한 최저측정한계와 측정오차가 적어 미량분석도 가능하다.정답

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