본문 바로가기
P
Pass
Fit
홈
문제풀기
오답노트
이북
시험일정
내정보
로그인
회원가입
자격증
/
정보기기운용기능사
/
2010년07월11일
/
44번
정보 통신 일반
정보기기운용기능사 · 2010년07월11일 · 44/60
44.
다음 중 성능이 좋고 여러 비트에서 발생하는 집단오류도 검출 가능한 방식은?
1
패리티 검사(Parity Check)
2
전진 에러 수정(FEC)
3
블록합 검사(BSC)
4
순환 잉여 검사(CRC)
정답
해설
집단 오류가 발생하면 잉여되므로 잉여검사를 한다라고 생각하세요^^
이전 문제
목록
다음 문제
이 시험을 직접 풀어보세요
실전과 동일한 CBT 환경에서 시간 제한 연습
회원가입 없이 CBT 풀기
홈
문제풀기
오답노트
이북
시험일정
내정보