기기분석I화학분석기사(구) · 2007년09월02일 · 47/80
47.X-선 형광법(XRF)은 시료 중의 금속 성분을 정성ㆍ정량 분석할 수 있다. 이에 대한 설명 중 틀린 것은?
1
XRF는 수소와 불활성 기체를 제외한 모든 성분을 분석할 수 있다.정답
2
XRF는 AAS나 lCP-AES와 같은 시료 전처리를 필요로 하지 않는다.
3
XRF로 분석시 높은 정확도를 얻기 위해서는 시료의 매트릭스와 유사한 표준물질로 분석해야만 한다.
4
XRF는 비파괴시험의 대표적인 예로서 시료 중의 대략적인 조성을 확인하고 screening 하는데 사용된다.